Itrax Core Scanner

Itrax
Itrax

O Itrax Core Scanner é un equipamento de escaneo de testemuños de alta resolución que permite realizar a análise da composición elemental das mostras mediante fluorescencia de raios X baseado na dispersión de enerxías (EDXRF), a obtención de imaxes ópticas e radiográficas, e a determinación da susceptibilidade magnética.

A Fluorescencia de Raios X (XRF) baséase na medida de intensidades, que posteriormente, con curvas de calibrado axeitadas, poden ser transformadas en concentracións. Un equipo de XRF consta dunha fonte de excitación, xeralmente un tubo de raios X, que fai chegar á mostra un conxunto de lonxitudes de onda composta polo espectro continuo e as radiacións características do elemento de que se compón o tubo. Este conxunto de lonxitudes de onda produce na mostra unha radiación de fluorescencia secundaria, debido á interacción das radiacións de excitación cos elementos que compoñen a mostra, emitíndose un feixe de raios X que pode ser medido cun sistema de detección axeitado.

O procedemento xeral para efectua-la análise por XRF consiste en dúas etapas: excitación e emisión. Primeiro bombardéase a mostra por medio dunha radiación primaria que fai pasar ós átomos da mostra a un estado de maior enerxía ou excitado mediante a saída de electróns dos mesmos. Debido a inestabilidade deste estado excitado, o átomo volta ó seu estado fundamental producíndose a emisión de raios X fluorescentes ou secundarios.

No caso dos espectrómetros de dispersión de enerxías (EDXRF) os raios X xerados inciden directamente no detector.

Equipamento instrumental

Itrax Core Scanner (Cox Analytical Systems)

  • Cámara lineal RGB
  • Tubo de raios X con ánodo de Mo o Cr
  • Detector de deriva de Si
  • Detector radiográfico
  • Sensor de Susceptibilidade magnética (Bartington MS3)

Para preparación da mostra:

  • Perladora Claisse
  • Prensa hidráulica Herzog
  • Portamostras específicos para mostras discretas
Aplicacións

Análise por EDXRF: O campo de aplicación desta técnica abarca elementos maioritarios, minoritarios e traza, permitindo determinar elementos químicos con número atómico maior que 13 (Aluminio). Permite escanear as mostras de escala submilimétrica a centimétrica, en función do interese do usuario, permitindo o estudio de cambios composicionais ao longo da mostra de xeito non destructivo e sen contacto coa mostra.

Obtención de imaxe óptica de alta resolución: Ademáis de obter imaxes a resolucion normal (500 µm), pódense obter imaxes HD (100 µm) con equipo. Os datos da imaxe óptica poden exportarse a datos numéricos en escala RGB.

Obtención de imaxe radiográfica de alta resolución: As mostras pódense analizar de escala submilimétrica a centimétrica, en función do interese do usuario, permitindo o estudio de cambios de densidade ao longo da mostra de xeito non destructivo e sen contacto coa mostra. Os datos da imaxe radiográfica poden exportarse a datos numéricos en escala de grises.

Determinación da Susceptibilidade magnética: As mostras pódense analizar de escala milimétrica a centimétrica, en función do interese do usuario, permitindo o estudio de cambios de SM volumétrica ao longo da mostra de xeito non destructivo. As medidas realízanse en contacto coa mostra.

De gran utilidade en mostras xeolóxicas, testemuños sedimentarios ou U-channels e testemuños de rocha. Ademais, pódense analizar mostras discretas.

Requisitos das mostras

Análise por EDXRF:

  • Testemuños sedimentarios (abertos), U-channels ou testemuños de rocha de ata 1.80 m.
  • Farase unha solicitude por cada testemuño ou U-channel.
  • Mostras discretas.
  • As mostras entregaránse no Laboratorio de Escaneo de Testigos (Planta -2, Anexo Torre CACTI). Consultar co Servizo para confirmar o horario de recepción de mostras.
  • Prazo de recollida das mostras tras análise: 1 mes.

Este equipo pode utilizarse en autoservicio. Consultar ao técnico correspondente.

Poderase solicitar:

Análise por EDXRF cualitativa: obténse a abundancia dos distintos elementos en cps (cunha resolución máxima de 200 µm). O tempo de medida aproximado para a análise XRF dunha mostra de 1 metro de lonxitude cunha resolución de 2 mm e con tempo de exposición de 20 s é de 3 horas.

Análise por EDXRF semicuantitativa: só no caso daquelas mostras problema para as que haxa dispoñibles materiais de referencia adecuados na base de datos (que se implementa ao longo do tempo). Consultar co servizo.

Fotografía a alta resolución da mostra.

Radiografía da mostra (cunha resolución máxima de 200 µm).

Determinacion da susceptibilidade magnética da mostra. O tempo de medida aproximado para a análise da SM dunha mostra de 1 metro de lonxitude cunha resolución de 5 mm é cerca de 2 horas.

Máis información

Jorge Millos – Paula Álvarez
+34 986 81 22 38 – +34 986 81 39 68 (Laboratorio de escaneo de testigos)

jmillos@uvigo.espalvarez@uvigo.es