Espectrometría de Masas de Ións Secundarios TOF-SIMS
A espectrometría de masas de Ións secundarios por tempo de voo (TOF-SIMS) representa a técnica máis sensible e completa para a caracterización da superficie de mostras sólidas. A universidade de Vigo dispón do único equipo TOF-SIMS de Galicia, e o primeiro que se instalou en España.
O instrumento emprega partículas cargadas/ións primarios que impactan na superficie da mostra obxecto de análise. No impacto, a enerxía cinética dos ións primarios transfírese á mostra, producindo a saída ou extracción de ións secundarios que proporcionan información, atómica, molecular e isotópica da superficie de interés.
Entre as principais vantaxes da técnica destacan que non é necesario preparar a mostra, pódese analizar calquera superficie sólida xa sexa de orixe orgánica ou inorgánico, é unha técnica NON DESTRUTIVA de análise, presenta unha extraordinaria resolución en profundidade e unha boa resolución espacial.
Esta técnica de análise de superficies combina tres características importantes de inmediato:
- Límite de detección (Sensibilidade ppm/ppb)
- Alta resolución espacial (200nm-400nm)
- Información atómica, molecular e isotópica
Equipamento instrumental
Espectrómetro de Masas de Ións Secundarios por tempo de voo TOF-SIMS IV, Fabricante: ION-TOF, modelo TOF-SIMS IV
Características técnicas:
- Elevada sensibilidade
- Alta transmisión
- Detección en paralelo de masas
- Alta resolución de masas: > 10 000
- Elevada precisión de masas: de 1 a 10 ppm
- Alta resolución lateral 200 nm
- Detección en paralelo de masas
- Perfís en Profundidade
- Resolución en profundidade 10 μm
- Reconstrución tridimensional do volume analizado
Aplicacións
Como diciamos calquera mostra sólida pode analizarse por TOF-SIMS, de alí que o seu campo de aplicación sexa moi amplo, entre algunhas das aplicacións máis frecuentes e comúns están:
- Estudo de recubrimientos en aplicacións de óptica, optoelectrónica e en aplicacións de tipo industrial
- Control de calidade en materiais e superficies en escala nano e micrométrica
- Caracterización subnanomética de materiais estruturados
- Determinación semicuantitativa de elementos minoritarios e traza en materiais sólidos (cuantitativa co uso de patróns)
- Estudo da distribución espacial de contaminantes, tanto orgánicos como inorgánicos
- Estudo de contaminantes ambientais no solo
- Estudos de cosmoquímica
Requisitos das mostras
As mostras deben estar en correctas condicións e por tanto non deben presentar restos de graxas, aceites, ou calquera composición que poñan en perigo a integridade do equipamento e deben ser non tóxicas ou daniñas.
- Calquera tipo de mostra (condutora, illante, magnética, orgánica, inorgánica, po, sólida, viscosa) sempre que sexa compatible con alto baleiro
- Sen necesidade de recubrimientos previos nin outro tipo de preparacións específicas
- Análise non destrutiva
- Área analizada: 20 μm – 500 μm (ampliable co stiching)
- Profundidade de análise 1 nm (ampliable mediante desbastado)
Máis información
Carmen Serra Rodríguez – Tatiana Padín Gómez – Paula Barbazán Martín
+34 986 813 882 – Fax: 986 812 135
cserra@uvigo.es – tatiana.padin@uvigo.es – pbarbazan@uvigo.es