Unidade de Microscopia Electrónica de Transmisión (TEM)
O Microscopio Electrónico de Transmisión emprega un feixe de electróns conducido a través dunha columna en baleiro, gracias a lentes electromagnéticas, hasta atravesar a mostra de interese. Neste proceso, o feixe será desviado en función da electrodensidade das distintas estruturas da mostra, dando orixe a unha imaxe que pode ser vista nunha pantalla fluorescente e recollida ben cunha cámara dixital ou por placas fotográficas.
No Servizo cóntanse con equipos de canón termoiónico e un con canón de electróns de emisión de campo, dotado cun módulo STEM, microanálise, detector de HAADF e criotransfer, que lle permite obter imaxes de alta resolución, microanálises con diámetro de sonda moi pequeno (nm.), mapeados de raios X con alta resolución espacial, así como estudiar mostras xeadas ou sensíbeis ao feixe de electróns.
En todos os casos, as mostras deben ter unha sección extremadamente fina (35-70 nm).
Equipamento instrumental
- Microscopio electrónico transmisión alto contraste JEOL JEM-1010 (100 kV)
- Resolución en TEM (0.4 nm)
- Cámara CCD Orius e Digital Montage Plug-in
- Fonte termoiónica de wolframio.
- Microscopio electrónico transmisión emisión de campo ultra alta resolución JEOL JEM-2010 FEG (200 kV)
- Ultra alta resolución en TEM (0.19 nm punto, 0.10 nm liña)
- STEM e STEM con HAADF
- Microanálises EDS con inxector de baixo fondo
- Difracción de electróns, feixe converxente
- Cámara CCD de alta resolución
- Software e accesorio holder de tomografíaEspectroscopía por perda de enerxía dos electróns (EELS).
- Microscopio electrónico de transmisión JEOL JEM-1400 (120 kV)
- Fonte termoiónica de hexaboruro de lantano.
- Resolución modo TEM: 0.38 nm entre puntos y 0,2 nm entre líñas.
- Resolución modo STEM: 2,0 nm.Microanálisise EDS do tipo SDD (Silicon Drift Detector) refrixerado termoeléctricamente.
- Resolución de 127eV medidos na línea K do Mn a 20.000 cps con fiestra ultra delgada.
- CCD de 2048×2048 píxeles.
- Software de control e procesado de imáxens.
- Xogo de tres portamostras: para 4 mostras, de dobre inclinación e portamostras de única mostra.
Aplicacións
- Ultraestructura de células, bacterias, etc.
- Localización e diagnóstico de virus
- Estudio de patoloxías
- Localización de actividade encimática
- Control do deterioramento de materiais
- Tratamentos experimentais
- Grao de cristalinidade e morfoloxía
- Defectos en semiconductores, etc.
- Estudio de nanopartículas compostas
- Estudios de cristais líquidos, inorgánicos e orgánicos, biomateriais, microemulsións
Requisitos das mostras
Poñerse en contacto cos técnicos do servizo.
Máis información
María Inés Pazos Garrido – Beatriz Rivas Murias – Catalina Sueiro López – Daniel Carlos Cernadas Fraga
+34 986 812 125 +34 986 812 110
inespazos@uvigo.gal – brivas@uvigo.gal – catalina.sueiro@uvigo.gal – daniel.carlos.cernadas.fraga@uvigo.ga